• Zeta電位測試

• 粒度分布測試

• 分子量測試

主要應(yīng)用領(lǐng)域

包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、藥物制備、水/ 油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調(diào)色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應(yīng)用等領(lǐng)域。

突出特點

• BT-Zeta100電位納米粒度分子量分析儀采用電泳光散射（ELS）原理，通過測量顆粒在電場中的運動速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來說，zeta電位越高，顆粒之間相互排斥越劇烈，分散體系越穩(wěn)定。

• 納米粒度分布測量采用動態(tài)光散射（DLS）原理，顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運動，較小顆粒的移動速度快于較大顆粒，在某個角度檢測記錄散射光強，散射光強的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動速度，利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。

• 分子量測量采用靜態(tài)光散射（SLS）原理，散射光的強度與分子量直接相關(guān)。測量不同濃度中測量散射光強，繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

良好的重復(fù)性

• 穩(wěn)定的折疊光路系統(tǒng)

• 高速數(shù)據(jù)采集與轉(zhuǎn)換模塊

• 高精度樣品池定位組件

良好的準(zhǔn)確性

• 粒度測試準(zhǔn)確性：用100nm 標(biāo)準(zhǔn)樣品測試，結(jié)果為101nm，誤差范圍為1%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于標(biāo)準(zhǔn)ISO13321 允許誤差10% 的要求。

• Zeta 電位測試準(zhǔn)確性：用-55mv 標(biāo)準(zhǔn)樣品測試，結(jié)果為-59.7994mv，誤差范圍為8.7%，小于標(biāo)準(zhǔn)ISO13099 允許誤差10% 的要求。

• 分子量測試